Menjadi penyedia global terkemuka dalam layanan konsultasi, pengujian, analisis XRF/XRD, sertifikasi, dan pelatihan, dengan komitmen untuk memberikan solusi yang inovatif, akurat, dan berkelanjutan
Misi kami adalah menyediakan layanan konsultasi, pengujian, analisis XRF/XRD, sertifikasi, dan pelatihan yang unggul dengan fokus pada akurasi, integritas, dan kepuasan pelanggan. Kami berkomitmen untuk mengaplikasikan teknologi mutakhir dan keahlian mendalam dalam setiap proyek, membantu klien mencapai tujuan mereka dengan solusi yang efektif dan berbasis data, serta mendukung perkembangan industri melalui pendidikan dan pelatihan yang berkualitas tinggi.
Silahkan tanyakan pada tim kami yang telah ahli dalam bidangnya
Alat canggih dan asli yang telah teruji.
Melayani sertifikasi hasil uji coba
Pelatihan peserta untuk dapat melakukan pengujian mandiri
Analisis XRF (X-ray Fluorescence) adalah teknik spektroskopi non-destruktif yang digunakan untuk menentukan komposisi elemen dari suatu bahan. Teknik ini memanfaatkan prinsip fluoresensi sinar-X untuk mengidentifikasi dan mengukur konsentrasi elemen-elemen dalam sampel. Berikut adalah rincian tentang bagaimana analisis XRF bekerja, aplikasinya, serta kelebihan dan kekurangan dari teknik ini.
Sampel ditempatkan dalam alat XRF dan disinari dengan sinar-X berenergi tinggi. Energi sinar-X ini menyebabkan elektron dalam atom sampel terlepas dari kulitnya (biasanya kulit K atau L).
Setelah elektron terlepas, atom menjadi tidak stabil dan mengembalikan elektron dari kulit yang lebih tinggi ke kulit yang lebih rendah. Proses ini menghasilkan sinar-X fluoresen dengan energi tertentu.
Sinar-X fluoresen yang dipancarkan oleh sampel dikumpulkan dan dianalisis menggunakan detektor. Spektrum yang dihasilkan menunjukkan puncak pada energi tertentu yang terkait dengan elemen-elemen spesifik dalam sampel.
Energi sinar-X fluoresen yang terdeteksi diidentifikasi untuk menentukan elemen-elemen yang ada. Intensitas puncak pada spektrum digunakan untuk menghitung konsentrasi masing-masing elemen dalam sampel.
Analisis XRD (X-ray Diffraction) adalah teknik analisis yang digunakan untuk menentukan struktur kristal suatu material dengan menganalisis pola difraksi sinar-X yang dihasilkan saat sinar-X dipancarkan pada sampel kristalin. Teknik ini sangat berguna dalam berbagai bidang, seperti material science, kimia, dan geologi, untuk mendapatkan informasi tentang struktur, fase, dan ukuran kristal.
Sinar-X dengan energi tinggi diarahkan ke sampel kristalin. Ketika sinar-X mengenai kristal, ia dipantulkan dalam berbagai arah
Sinar-X yang dipantulkan atau dibiaskan oleh lapisan-lapisan atom dalam kristal akan membentuk pola difraksi. Pola ini tergantung pada jarak antar lapisan dalam kristal dan sudut datang sinar-X
Detektor mengumpulkan sinar-X yang dipantulkan dan mengukur intensitas serta sudut difraksi. Data ini biasanya direkam dalam bentuk pola difraksi.
Pola difraksi yang diperoleh kemudian dianalisis untuk menentukan struktur kristal, termasuk parameter kisi, ukuran butir kristal, dan fase-fase material. Ini dilakukan dengan membandingkan pola difraksi dengan database referensi yang berisi pola difraksi dari berbagai bahan kristalin.
Jl. Arjuna Utara No.16, RT.1/RW.2, Duri Kepa, Kebonjeruk, West Jakarta City, Jakarta 11510