Warning: Trying to access array offset on value of type bool in /home/u419502437/domains/moneroglobalresources.com/public_html/wp-content/plugins/elementor/includes/base/widget-base.php on line 223

Warning: Undefined array key -1 in /home/u419502437/domains/moneroglobalresources.com/public_html/wp-content/plugins/elementor/includes/base/controls-stack.php on line 695

Pengujian Akurat, Produk Berkualitas

Analisis XRF (X-ray Fluorescence)

Analisis XRD (X-ray Diffraction)

Tentang Monero

Visi

Menjadi penyedia global terkemuka dalam layanan konsultasi, pengujian, analisis XRF/XRD, sertifikasi, dan pelatihan, dengan komitmen untuk memberikan solusi yang inovatif, akurat, dan berkelanjutan

Misi

Misi kami adalah menyediakan layanan konsultasi, pengujian, analisis XRF/XRD, sertifikasi, dan pelatihan yang unggul dengan fokus pada akurasi, integritas, dan kepuasan pelanggan. Kami berkomitmen untuk mengaplikasikan teknologi mutakhir dan keahlian mendalam dalam setiap proyek, membantu klien mencapai tujuan mereka dengan solusi yang efektif dan berbasis data, serta mendukung perkembangan industri melalui pendidikan dan pelatihan yang berkualitas tinggi.

Bukti

Fakta tentang Monero

0 %
Pelanggan Puas
0 +
Tenaga Profesional
0
Proyek Analisa
Keunggulan

Mengapa Monero ?

Service (Pelayanan)

Menyediakan layanan yang berkualitas tinggi dan responsif terhadap kebutuhan pelanggan.

Up-to-date (Terkini)

Menggunakan teknologi dan metode terbaru untuk tetap relevan.

Creativity (Kreativitas)

Menerapkan solusi inovatif untuk memenuhi tantangan.

Commitment (Komitmen)

Berkomitmen untuk mencapai tujuan dan memenuhi harapan pelanggan.

Sustainability (Keberlanjutan)

Mendukung praktik ramah lingkungan dan keberlanjutan.

Safety (Keamanan)

Memastikan keamanan dalam semua aspek operasional.
Proses analisa 2 hari kerja
Kunjungan ke tempat
Pengetesan oleh ahli

Layanan

Konsultasi

Silahkan tanyakan pada tim kami yang telah ahli dalam bidangnya

Pengujian & Analisis XRF / XRD

Alat canggih dan asli yang telah teruji.

Sertifikasi

Melayani sertifikasi hasil uji coba

Pelatihan

Pelatihan peserta untuk dapat melakukan pengujian mandiri

Hot
Item
Definisi XRF ( X-ray Fluorescence)

Analisis XRF (X-ray Fluorescence) adalah teknik spektroskopi non-destruktif yang digunakan untuk menentukan komposisi elemen dari suatu bahan. Teknik ini memanfaatkan prinsip fluoresensi sinar-X untuk mengidentifikasi dan mengukur konsentrasi elemen-elemen dalam sampel. Berikut adalah rincian tentang bagaimana analisis XRF bekerja, aplikasinya, serta kelebihan dan kekurangan dari teknik ini.

Cara Kerja

1. Eksitasi Sampel

Sampel ditempatkan dalam alat XRF dan disinari dengan sinar-X berenergi tinggi. Energi sinar-X ini menyebabkan elektron dalam atom sampel terlepas dari kulitnya (biasanya kulit K atau L).

2. Emisi Fluoresensi

Setelah elektron terlepas, atom menjadi tidak stabil dan mengembalikan elektron dari kulit yang lebih tinggi ke kulit yang lebih rendah. Proses ini menghasilkan sinar-X fluoresen dengan energi tertentu.

3. Pengukuran Spektrum

Sinar-X fluoresen yang dipancarkan oleh sampel dikumpulkan dan dianalisis menggunakan detektor. Spektrum yang dihasilkan menunjukkan puncak pada energi tertentu yang terkait dengan elemen-elemen spesifik dalam sampel.

4. Identifikasi dan Kuantifikasi

Energi sinar-X fluoresen yang terdeteksi diidentifikasi untuk menentukan elemen-elemen yang ada. Intensitas puncak pada spektrum digunakan untuk menghitung konsentrasi masing-masing elemen dalam sampel.

Hot
Item
Definisi XRD (X-ray Diffraction)

Analisis XRD (X-ray Diffraction) adalah teknik analisis yang digunakan untuk menentukan struktur kristal suatu material dengan menganalisis pola difraksi sinar-X yang dihasilkan saat sinar-X dipancarkan pada sampel kristalin. Teknik ini sangat berguna dalam berbagai bidang, seperti material science, kimia, dan geologi, untuk mendapatkan informasi tentang struktur, fase, dan ukuran kristal.

Cara Kerja

1. Eksitasi Sampel

Sinar-X dengan energi tinggi diarahkan ke sampel kristalin. Ketika sinar-X mengenai kristal, ia dipantulkan dalam berbagai arah

2. Difraksi

Sinar-X yang dipantulkan atau dibiaskan oleh lapisan-lapisan atom dalam kristal akan membentuk pola difraksi. Pola ini tergantung pada jarak antar lapisan dalam kristal dan sudut datang sinar-X

3. Pengumpulan Data

Detektor mengumpulkan sinar-X yang dipantulkan dan mengukur intensitas serta sudut difraksi. Data ini biasanya direkam dalam bentuk pola difraksi.

4. Analisis Data

Pola difraksi yang diperoleh kemudian dianalisis untuk menentukan struktur kristal, termasuk parameter kisi, ukuran butir kristal, dan fase-fase material. Ini dilakukan dengan membandingkan pola difraksi dengan database referensi yang berisi pola difraksi dari berbagai bahan kristalin.

Customer Testimonial
Daftar pelanggan
Dari blog kami

Berita dan artikel terbaru

Info Kontak

Apakah Anda ingin tahu informasi selengkapnya, jangan ragu untuk menghubungi kami

Ada pertanyaan ?

Kirim pesan disini

Shopping Basket